- 思克测试薄膜测厚仪
详细信息
品牌:SYSTESTER 加工定制:是 型号:THI 类型:薄膜 测量范围:0~2mm mm 显示方式:数显 电源电压:220 V 外形尺寸:无 mm 思克测试薄膜测厚仪济南思克测试技术有限公司:品牌【SYSTESTER】
测厚仪(又称0.1微米高精度测厚仪,纸张测厚仪,芯片测厚仪等)
执行标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353,适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。测厚仪产品特点:
接触式测量原理
德国进口测厚传感器
触摸屏操作
扁平化人机交互界面显示
真彩色液晶显示试验数据、结果
手动、循环、预约定时多种测量模式
测试过程全自动完成
内嵌*大值、*小值、平均值、标准差数据统计分析功能
本机内置历史数据查询功能
配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告
配置标准通信接口
可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)
技术指标:
测量范围:0~2mm(标准)
0~10mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:1~25次/min(可调)
测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)
纸张:200mm2,50±1kPa(可选)
电 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
净 重:38kg
执行标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
产品配置
标准配置:主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件
选 购 件:纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM实验室数据管理系统
注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改权与*终解释权!
相关检测:
透湿透氧分析仪:薄膜透氧仪、透湿分析仪、薄膜透气分析仪、等压法氧气透过率检测定、杯式法水蒸气透过率测试仪、电解法水蒸气透过率分析仪、红外法水蒸气透过率测试仪、混和气体透过率测试仪、多种气体透过率测试仪、阻隔性测试仪、膜分离测试分析仪
包装检测仪:电子拉力试验机、软包装拉力试验机、摩擦系数仪、动静摩擦系数仪、表面滑爽性测试仪、热封试验仪、热封强度测试仪、落镖冲击试验仪、密封试验仪、高精度0.1微米高精度测厚仪、扭矩仪、医yao包装性能测试仪、卡式瓶滑动性测试仪、安瓿折断力测试仪、胶塞穿刺力测试仪、电化铝专用剥离试验仪、离型纸剥离仪、泄漏强度测试仪、薄膜穿刺测试仪、弹性模量测试仪、气相色谱仪、溶剂残留测试仪等优质包装性能测试仪! -
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