| | 品牌：SYSTESTER | | 加工定制：是 | | 型号：THI | |
| | 外形尺寸：- mm | | 重量：- g | | 适用范围：- | |
| | 用途：- | | 电源电压：- V | | | |
友情提示：店铺价格仅供参考，不作为实际交易价格！
薄膜厚度均匀性测试仪
薄膜厚度均匀性测试仪应用范围
适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
薄膜厚度均匀性测试仪主要特点
接触式测量原理
进口测厚传感器
触摸屏操作
扁平化人机交互界面显示
真彩色液晶显示试验数据、结果
手动、循环、预约定时多种测量模式
测试过程全自动完成
内嵌*大值、*小值、平均值、标准差数据统计分析功能
本机内置历史数据查询功能
配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告
配置标准通信接口
可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）
薄膜厚度均匀性测试仪技术指标
测量范围：0～2mm（标配）
0～10mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：1~25次/min（可调）
测量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）
纸张：200mm2，50±1kPa（可选）
薄膜厚度均匀性测试仪执行标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜厚度均匀性测试仪产品配置
主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件
注：产品技术规格如有变更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改权与解释权！
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薄膜厚度均匀性测试仪主要特点
￥323000.00
￥328000.00
￥357000.00
