• 薄膜厚度均匀性测试仪THI

    详细信息

     品牌:SYSTESTER  加工定制:是  型号:THI  
     外形尺寸:- mm 重量:- g 适用范围:-  
     用途:-  电源电压:- V  
    友情提示:店铺价格仅供参考,不作为实际交易价格!
     
     
    薄膜厚度均匀性测试仪
     
    薄膜厚度均匀性测试仪应用范围
    适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
     
    薄膜厚度均匀性测试仪主要特点
    接触式测量原理
    进口测厚传感器
    触摸屏操作
    扁平化人机交互界面显示
    真彩色液晶显示试验数据、结果
    手动、循环、预约定时多种测量模式
    测试过程全自动完成
    内嵌*大值、*小值、平均值、标准差数据统计分析功能
    本机内置历史数据查询功能
    配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告
    配置标准通信接口
    可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)
     
    薄膜厚度均匀性测试仪技术指标
    测量范围:02mm(标配)
                        010mm(可选)
    率:0.1μm
    测量速度:1~25/min(可调)
    测量 头:薄膜:50mm217.5±1kPa(标配)
    纸张:200mm250±1kPa(可选)
     
    薄膜厚度均匀性测试仪执行标准
    GB/T 6672GB/T 451.3GB/T 6547ASTM D645ASTM D374ASTM D1777TAPPI T411ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105DIN 53353JIS K6250JIS K6328JIS K6783JIS Z1702BS 3983BS 4817
     
    薄膜厚度均匀性测试仪产品配置
    主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件
     
    注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改权与解释权!
     
     
     
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