- SYSTESTER质子交换膜厚度均匀性测试仪思克THI系列
详细信息
品牌:SYSTESTER 加工定制:是 型号:THI系列 类型:薄膜 测量范围:0~2mm mm 显示方式:数显 电源电压:220 V 外形尺寸:无 mm 质子交换膜厚度均匀性测试仪
济南思克测试技术有限公司:品牌【SYSTESTER】测厚仪(又称0.1微米高精度测厚仪,纸张测厚仪,芯片测厚仪等)执行标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353,适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。测厚仪技术指标:
测量范围:0~2mm(标准)
0~10mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:1~25次/min(可调)
测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)
纸张:200mm2,50±1kPa(可选)
电 源:AC 220V 50Hz
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